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當前位置:首頁技術文章數字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 型號:DP-LT-200

數字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 型號:DP-LT-200

更新時間:2017-06-22點擊次數:1173

數字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀 型號:DP-LT-200

1.    儀器應用范圍及說明

本設備是按照家標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的頻光電導衰減法”。頻光電導衰減法在我半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探器行業(yè)已運用了三十多年,積累了豐富的使用經驗,經過數次十多個單位巡回測試的考驗,證明是種成熟可靠的測試方法,特別適合于硅塊、硅棒的少子體壽命測量;也可對硅片行測量,給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面,因此制樣特別簡便。

數字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點:

可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數載流子體壽命。表面無需拋光,直接對切割面或研磨面行測量,儀器可按需方提供的有標稱值的校準樣品調試壽命值。

1.1     可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數載流子的相對壽命,表面無需拋光、鈍化。

1.2     液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時在線顯示光電導衰退波形。

1.3   配置的紅外光源:0.904~0.905μm波長紅外脈沖激光器,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強較強,有利于測量低阻太陽能級硅晶體少數載流子體壽命,脈沖率30W。

1.4     測量范圍寬廣

測試儀可直接測量:

a、研磨或切割面:電阻率≥0.5Ω•cm的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對壽命。

b、拋光面:電阻率在0.5~0.01Ω•cm范圍內的硅單晶、鍺單晶厚度小于1mm的拋光片。

2.    設備要求及性能標

2.1     少子壽命測試范圍:0.5μs~6000μs            

2.2     樣品的電阻率范圍:ρ﹥0.1Ω·cm(非回爐料)             

2.3     測試速度:1分鐘/片                     

2.4     紅外光源波長: 0.904~0.905μm                  

2.5     頻振蕩源:用石英諧振器,振蕩頻率:30MHZ

2.6     前置放大器,放大倍數約25,頻寬2HZ-2MHZ

2.7     可測單晶尺寸:斷面豎測:

直徑25mm-150mm;厚度2mm-500mm

縱向臥測:直徑5mm-20mm;長度50mm-200mm

2.8     測量方式:采用數字示波器直接讀數方式

2.9     測試分辨率:數字存儲示波器zui小分辨率0.01μs

2.10  設備重量:20 Kg

2.11  儀器電源:電源電壓類型:單相210~230V,50Hz,帶電源隔離、濾波、穩(wěn)壓,不能與未做保護措施的大率、頻設備共用電源。

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